日本三豐Mitutoyo粗糙度儀SJ-410系列*

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SJ-410系列，日本三豐的高精度和多功能便攜式表面粗糙度測試儀已經贏得了聲譽，保證高精度的驅動單元，直線度測量，skidless支持，并能夠測量波浪和復雜形狀的表面以外的實驗室環境。今天競爭激烈的表面測量市場，需要更多比以前更高功能的測量和分析。為滿足這些需求，三豐退出了新的sj-410系列，該系列的測試儀包含粗糙度測試儀的所有基本功能，并且性能能更好。

主要特征：
==>>大5.7“彩色液晶觸摸屏提高了可操作性，實現了高可見度。
==>>符合JIS-B0601-2001，JIS-B0601-1994，JIS-B0601-1982，VDA，ISO-1997和ANSI的粗糙度標準。
==>>還包括一個簡單的輪廓分析功能（4種類型：步數，步量，面積和坐標差）
==>>D.A.T. （數字調整傾斜）功能也可用于簡單的工件平整。
==>>可以進行300個樣品的3個參數的統計測量，顯示平均值，標準偏差，zui大值，zui小值，合格率和直方圖。
==>>內置熱敏打印機可顯示和打印多達10個測量條件以及存儲的數據。內置存儲器zui多可以存儲10個測量條件。
==>>SJ-411/412支持micro-SD卡（可選），可存儲多達10,000個測量值，500個測量條件，1000個測量數據，500個圖像（BMP）數據，500個統計數據或自動保存到zui后10個測量數據集。
==>>可以顯示總測量和截面測量結果以及評估曲線BAC / ADC曲線。
==>>支持USB，Digimatic SPC輸出，RS-232C和外部軟件連接。
==>>安全性通過密碼鎖定進行管理，以限制功能更改和不必要的可能導致操作錯誤的設置。
==>>可以選擇16種語言并可切換。
==>>可以獨立地記錄和校準zui多5個定制測針。
==>>手動柱架有三種可選附件，可幫助設定和提高SJ-410系列，自動調整裝置，傾斜調節裝置和X軸調整裝置的可操作性。

SJ-410系列
Model No. Detector measuring force Measuring range
SJ-411 0.75mN 25mm
SJ-411 4mN 25mm
SJ-412 0.75mN 50mm
SJ-412 4mN 50mm

測量范圍：
測量范圍（分辨率）：8μm（0.000125μm），
80μm（0.00125μm），
800μm（0.0125μm），自動
測量速度：0.05,0.1,0.2,0.5,1mm / s
返回速度：0.5,1,2mm / s
采樣長度：0.08,0.25,0.8,2.5,8,25mm
采樣長度數：x1 - x20，xL
容忍判斷16％規則：標準
主題參數：標準
電池容量：1000次測量（約）
充電電池所需的時間： 4個小時
自動睡眠等待時間：30-600秒（僅限電池）
RS-232C速度：9600,19200,38400
安全管理：標準
齒輪齒面檢測器：標準

功能：
1.可實現有軌測量與無軌測量的轉換
A.無軌測量無軌測量以保證了驅動部直線度的導軌為基準，通過移動檢出器，測針的上下變位量檢測出表面的凹凸，實現對表面粗糙度、波度以及細微的階差形狀的測量
B.有軌測量有軌測量對測量工件表面的較大波形進行追蹤，從而搖動帶有導軌的檢出器。此時，將以導軌為基準的測針的上下變位量作為表面的凹凸進行檢出。
2.工件定位的預測功能
標準配備有強力支持無軌測量時水平調整作業DAT (Digital Advanced Tilting) 功能的上下傾斜裝置。DAT (Digital Advanced Tilting) 功能，可先進行預先測量，從其測量結果來計算測量面的傾斜度。任何人都可以簡單地進行水平調整，既能減輕人為誤差還可提高作業效率。
3.可測量R面粗糙度(無軌測量時)：
球面或圓柱面的表面粗糙度是無法直接測量的，但除去圓形狀成分進行補正即可進行表面粗糙度評價。除了圓形外，還可以對應拋物線、圓錐形、傾斜等表面的測量。
4.重新計算：
測量后，變更評價條件(規格、曲線、參數) 進行重新計算*，也可輕松完成。
5.一次的測量可進行兩次不同條件的評價：
一次的測量可進行兩次不同評價條件的分析。不依賴數據保存后的再計算，一次的測量便可對參數進行演算和對評價曲線進行解析，大幅度地提高工作效率
6.合格/不合格顯示：
測量表面粗糙度時在開始測量(讀取數據) 前，需要加速距離。SJ-410在通常測量下設置了0.5mm的加速距離。這個距離能縮短到0.15mm，就是小范圍測量功能(從驅動部原點位置到開始)。此功能將測量范圍擴展到可對活塞圈、O形圈安裝槽部等空間狹小位置的粗糙度的測量也可實現。
7.簡易輪廓解析功能：
使用收集到的點群數據分析表面粗糙度，也可簡易地進行輪廓形狀解析(階差、階差量、面積、坐標差)?？蓪υ谳喞螤顪y量機上不能分析的細微形狀進行分析。